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Re: [問卦] 一顆邏輯晶片可以忍受幾個壞掉的電晶體?

twiris 發表於 2023/4/18 下午11:39:14
看板Gossiping標題Re: [問卦] 一顆邏輯晶片可以忍受幾個壞掉的電晶體?作者
twiris
 (ir)時間推噓 1 推:1 噓:0 →:5

有幾種情況

若晶片具有多個相同功能區塊，某區塊壞掉了，懂設計的會多增加把個別區塊disable的電路，把壞的關掉

例如多核的CPU

像nand flash之類的記憶體，懂的設計的會加入冗餘設計，也就是晶片實際容量比規格大，壞的區塊在出廠前就被標記，確保符合標準的規格

但其實每個晶片出廠前都會進行幾乎完整覆蓋率的測試，很多時後會發現只是降頻或供電調整就能工作，這時就會把晶片多弄個編號，分個商規，工規之類的，賣便宜點

真的壞在關鍵電路上，又沒有額外設計的，就算你倒霉，打入廢品了

--

※ PTT 留言評論
※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 36.226.161.4 (臺灣)

※ 文章網址:
https://www.ptt.cc/Gossiping/E.aBZd6YLdSeKI

→

coware 04/19 00:08人家問到的邏輯晶片 …

CPU不就是了，難道你說的是74xxx那些TTL嗎？

※ 編輯: twiris (36.226.161.4 臺灣), 04/19/2023 02:49:53
推

child1991 04/19 08:10nand flash的部分會依照可用的容量分

→

child1991 04/19 08:10bin值 例如200G因為不足256開卡的時候

→

child1991 04/19 08:10開成128G 雖然表面上跟足容128G的可用

→

child1991 04/19 08:11容量一樣 但200G開128有比較多的冗餘

→

child1991 04/19 08:11空間所以更不容易損壞
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